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膜厚測定システム MCPD series 膜厚測定膜厚測定(MCPD検出器+顕微鏡)感光ドラム膜厚測定LB膜測定蒸着膜測定多点測定膜厚モニター
目的に応じた最適システムを提供 膜厚測定システム MCPD series
MCPD検出器(MCPD-9800 / MCPD-3700 /MCPD-7700 /MCPD-5000 /MCPD-N500) と、フレキシブル光ファイバー、豊富なオプション類を組み合わせることにより、目的に応じた最適システムを提供します。

MCPD検出器 測定波長範囲
MCPD-9800:広ダイナミックレンジタイプ 360〜1100nm
MCPD-3700:標準タイプ 220〜1000nm
MCPD-7700:高感度タイプ 220〜1100 nm
MCPD-5000:近赤外タイプ 900〜1600 nm
MCPD-N500:近赤外タイプ 1100〜2500 nm
ゼータ電位・粒径測定システムに関するTopics
膜厚測定
  • 半導体ウエハ上膜(酸化膜、ちっ化膜、レジスト)
  • レジスト剥離液の厚み、ウエット状態の膜
  • コーディングフィルム(塗布膜、蒸着膜、接着剤、アクリル樹脂、光ディスク、ビデオヘッド
  • プラスチックフィルム(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性フィルム、包装用フィルム

システム構成
システム構成図
(1)MCPD検出器 (2)反射膜厚測定ユニット (3)Y型ファイバー
(4)測定用光源

測定例
セルギャップの干渉スペクトル
膜厚測定+(MCPD検出器+顕微鏡)
  • 半導体ウエハ上膜(酸化膜、ちっ化膜、レジスト)
  • レジスト剥離液の厚み、ウエット状態の膜
  • コーディングフィルム(塗布膜、蒸着膜、接着剤、アクリル樹脂、光ディスク、ビデオヘッド
  • プラスチックフィルム(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性フィルム、包装用フィルム

システム構成
システム構成図
(1)MCPD検出器 (2)エリアマーカー用光源 (3)エリアマーカー付き
ファイバー (4)顕微鏡 (5)顕微鏡アタッチメント (6)顕微鏡用安定
化電源
感光ドラム膜厚測定
  • 有機OPC系、無機セレン系、アモルファスシリコン

システム構成
システム構成図
(1)MCPD検出器 (2)Y型ファイバー (3)X-Y-θステージ (4)測定用光源

測定例
感光ドラムの測定ポイントごとにおける膜厚変化

 

LB膜測定

システム構成
システム構成図
(1)MCPD検出器 (2)反射膜厚測定ユニット (3)Y型ファイバー
(4)測定用光源

測定例
気-液海面上の単分子膜スペクトル

 

蒸着膜測定
システム構成
システム構成図
(1)MCPD検出器 (2)耐真空用Y型ファイバー  (3)測定用光源

測定例
蒸着フィルムの干渉スペクトル

 

多点測定膜厚モニター
  • 半導体ウエハ上膜(酸化膜、ちっ化膜、レジスト
  • レジスト剥離液の厚み、ウエット状態の膜
  • コーディングフィルム(塗布膜、蒸着膜、接着剤、アクリル樹脂、光ディスク、ビデオヘッド
  • プラスチックフィルム(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性フィルム、包装用フィルム

システム構成
システム構成図
(1)MCPD検出器 (2)受光用ファイバー (3)ファイバー切替ユニット
(4)Y型分岐ファイバー (5)測定用光源

測定例
オプティカルディスクの保護膜の干渉スペクトル

 

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