濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 - 粒度分布・粒子径（粒径）分布測定装置（粒度分布計） - 粒子径（粒径）・粒度ナノ粒子径測定　大塚電子株式会社

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希薄溶液から濃厚溶液まで、幅広い濃度範囲での高速・高精度な粒子径・粒子径分布（粒径・粒径分布）測定が可能です。

微粒子特有の分散・凝集過程をモニターする機能など、研究・品質管理の幅広い用途で使用可能です。

新開発の測定プローブにより、濃厚溶液での高精度な粒子径測定に対応しています。

サンプル温調、超音波洗浄など、必要な機能をすべて内蔵したA3サイズのコンパクト設計です。

ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000ZS　　ゼータ電位測定システム ELSZ-1000Z　　粒径測定システム ELSZ-1000S
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-2　　ゼータ電位測定システム ELSZ-1　　オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000AS
卓上型超遠心機 Optima MAX-XP　　ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000　　ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500

「分析ミニセミナー・分析相談室」を開催いたします〔 2012年4月20日更新〕
会員ページより、光散乱ジャーナル「LSアドバンス Vol.10」がダウンロード可能になりました〔 2012年3月30日更新〕

　 FPAR-1000とオートサンプラーの使用方法を動画で紹介　（動画をご覧いただくためには Adobe FlashPlayer が必要です）

粒子径	3 nm ～ 5000nm
	1 nm ～ 5000nm （高感度仕様）
	キュムラント平均粒子径ヒストグラム平均粒子径（D50）
分布解析	CONTIN法 MARQUARDT法 NNLS法 CUMULANT法

対応濃度範囲（標準ラテックス　204nm の場合）	0.001 ～ 10 %
	濃厚系プローブ（標準）　 0.01 ～ 10 %
	希薄系プローブ（オプション）　 0.001 ～ 0.01 %

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■色材工業における顔料・インクの分散・凝集制御・粒子径管理

■セラミックススラリーの分散・凝集制御、分散剤効果

■半導体分野の研磨粒子の粒子径管理

■高分子・化学工業におけるエマルジョン、ラテックスの分散凝集制御、粒子径管理

■医薬品・食品エマルジョンの分散・凝集制御、リポソームなどの粒子径管理

■光触媒（酸化チタン）粒子の分散状態管理

光源	半導体レーザー
検出器	光電子増倍管（フォトンカウンティング方式）
サンプル温調範囲	10 ～ 70℃
温調方式	電子式冷却素子、ヒーター
プローブ洗浄方式	超音波洗浄
電源	AC100V ± 10%50/60Hz 300VA
寸法（WDH）	320×507×284 mm
重量	約 22 kg

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■ 有機顔料 - プリンタ用インク
■ 無機粉体 - CMPスラリー
■ 同一メーカーのコーヒー飲料比較
■ 異なるメーカーのコーヒー飲料比較

■ 希薄系プローブ
■ FPAR用オートサンプラー

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